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Introducción a las tecnologías fotónicas. Fundamentos y aplicaciones metrológicas      

    Docentes expositores/as: Gustavo Torchia, Damian Presti, Jeffry Martínez Valdiviezo, Demian Biasetti, Fabian Videla       

    Inscripción y postulación a becas: del 17 al 31 de agosto de 2026 

    Fecha de realización: martes 20/10, jueves 21/10, viernes 22/10, martes 24/11, jueves 26/11, viernes 27/11, de 12 a 18 horas               

    Carga horaria: 40 horas   

    Metodología: Teórico- práctico

    Modalidad: presencial

    Código del curso: 50/DCYT

    Certificado: Se entregarán certificados de asistencia y aprobación de la Universidad Nacional de Quilmes.

    Arancel: Residentes en el país: $ 152000 (Extranjeros residentes en Argentina, deberán presentar certificado de residencia en el país. Caso contrario, la facturación se realizará como Residentes en otros países.)

    -Residentes en otros países: informes_posgrado@unq.edu.ar

    Proceso de Inscripción

    Antes de comenzar el proceso de inscripción, asegurate de tener una dirección de correo electrónico válida y que funcione correctamente, hasta obtener el usuario de estudiante de la UNQ, con dominio “@uvq.edu.ar”, el cuál se considerará automáticamente como su domicilio electrónico. Es importante destacar que las comunicaciones que enviemos a estas direcciones se considerarán válidas y suficientes a todos los efectos legales

    A continuación les facilitamos la guía de inscripción: “Guía de Inscripción a cursos de posgrado”

    Admisión

    Los/as aspirantes a las propuestas formativas de posgrado deberán poseer como mínimo alguna de las siguientes condiciones:
    a) Ser graduado/a universitario con título de grado final expedido por una Universidad Nacional, Universidad Provincial o Universidad Privada reconocida por el Poder Ejecutivo Nacional, correspondiente a una carrera con al menos cuatro (4) años de duración;
    b) Graduados/as de Universidades extranjeras reconocidas por las autoridades competentes en su país.
    c) Acreditar estudios terciarios completos de cuatro (4) o más años de duración con título final expedido por una institución reconocida por la autoridad educativa competente.

    Fundamentación

    Curso ofrecido en el marco del Doctorado en Ciencia y Tecnología

    Este curso de postgrado ofrecerá un amplio abanico de técnicas y metodologías fotónicas con fuerte impacto metrológico en distintas ramas de la ciencia, que se puede extender desde aplicaciones biológicas hasta el desarrollo de sistemas de instrumentación. En primer lugar, se hará un análisis completo de las fuentes de luz comúnmente utilizadas para estas tecnologías, centrado principalmente en el láser. Asimismo, se presentarán los fundamentos de distintos fenómenos de la óptica, que son la base de estas herramientas de medida. Se complementará estos estudios con la descripción de distintos equipos comerciales habitualmente utilizados en laboratorios e industria, basados en estas tecnologías fotónicas. Entre ellos podemos mencionar: espectrofotómetros, fluorómetros, distintos tipos de microscopios, granulómetros, medidores de tamaño de partícula, equipos Raman, citómetros de flujo, sistemas de detección, interferómetros, etc.

    Finalmente, en el contenido de este curso se introducirán conceptos básicos de la fotónica integrada. Esta rama de la física promueve la miniaturización de distintos sistemas basados en estas tecnologías, entre ellos sensores y otros elementos fotónicos integrados que abastecen demandas del sistema socio-productivo en cuanto a la mayor capacidad de integración, robustez, inmunidad al ruido, costo y versatilidad. En este punto también se incluirán sensores basados en fibras ópticas que permiten el monitoreo remoto de distintos sistemas y/o equipos, como así también se presentarán otros dispositivos de fotónica integrada.

    Objetivos Generales:

    Generar una formación general al estudiante de postgrado en las tecnologías fotónicas y además mostrar la potencialidad y versatilidad de estas en cuanto aplicaciones metrológicas en distintos campos. Asimismo, dar una visión global del funcionamiento de equipos comerciales utilizados habitualmente en laboratorios e industria y que se basan en estas tecnologías. Dar a conocer los alcances de sensores y dispositivos

    integrados basados en estas tecnologías.

    Objetivos Específicos:

    Brindar distintos fundamentos de fenómenos de física y óptica en los cuales se basan la operación de equipos e instrumentos de laboratorio basados en estas tecnologías.

    Mostrar la operación de distintas técnicas fotónicas como herramientas metrológicas en distintos campos de aplicación.

    Introducir a diversas técnicas de microscopía (confocal, Raman de fluorescencia etc.).

    Realizar distintos trabajos prácticos de laboratorio con el propósito de fijar los conceptos introducidos en las clases de fundamentos.

    Brindar entrenamiento básico en el manejo de instrumentos y equipos de laboratorio. Introducir conceptos de la fotónica integrada y algunas aplicaciones.

    Detallar el funcionamiento de distintos sensores fotónicos implementados en sistemas integrados y en fibras ópticas.

    Unidades Temáticas

    Unidad 1: Fuentes de luz: Espectro electromagnético: La luz. Propiedades de los láseres de onda continua y pulsados (Q-Switch – Mode Locking). Otras fuentes de luz (lámparas incandescentes y de descarga, leds, fuentes ASE, etc.). Conceptos de energía, radiación, potencia, polarización. (4 hs).

    -Unidad 2: Óptica Geométrica. Trazado de rayos, reflexión, refracción. Dispersión de la luz (prismas). Películas delgadas. Componentes ópticos: lentes, diafragmas, prismas, polarizadores. Formación de imágenes (lupa, microscopio) (4 hs).

    Unidad 3: Fundamentos de Espectroscopia. Niveles de energía. Absorción y emisión. Fotoluminiscencia. Vidas medias. Detectores en distintos rangos espectrales. UV-Visible-NIR. Materiales dopados con iones y/o moléculas: cetros de color, colorantes R6G, Nd, Cr, Er etc. Aplicaciones en Fluorómetros, Espectrofotómetros, Láser LIBS. (6 hs)

    -Unidad 4: Fundamentos de Microscopías óptica y electrónica. Criterio de resolución de Raleigh. Onda

    evanescente. Microscopio de fluorescencia en configuración estándar y por Reflexión total interna (TIRF). Espectroscopia Raman: Principios básicos y aplicaciones en caracterización de materiales. Aplicaciones: Microscopía Confocal Raman y fluorescencia. (6 hs).

    Unidad 5: Fundamentos de Interferometría: Superposición de ondas. Interferómetros Mach Zehnder (MZ), Michelson-Sagnac, Fizeau, Fabry-Perot. Aplicaciones: Espejos y filtros dicroicos, Espectrofotómetro de Fourier, Tomografía de coherencia óptica (OCT) (6 hs).

    Unidad 6: Introducción a la fotónica integrada y fibras ópticas. Conceptos básicos de sistemas de luz guiada. Guías de onda ópticas planas y acanaladas. Técnicas de fabricación. Circuitos ópticos. Aplicaciones: Divisores de potencia e interferómetros MZ. (6hs).

    -Unidad 7: Introducción a procesos ópticos no lineales. Polarización no lineal de los medios. Ajuste de fase (Phase Matching) Fundamentos: Generación de segunda armónica (SHG), Oscilador paramétrico Óptico (OPO) y Mezclado de Cuatro Ondas (FWM). Efecto Pockels. Quasi Phase matching- cristales PPLN. Aplicaciones: fuentes ópticas sintonizables y modulación electro-óptica en fotónica integrada. Sensores (4hs).

    Evaluación: dos jornadas de 2 hs para exposición de trabajos y debate con preguntas.

    Bibliografía obligatoria:

    Unidad I

    -El láser en nuestro tiempo, Grupo de Optica, Universidad de Salamanca, https://laser.usal.es/alf/wp-content/uploads/2012/11/El_laser.pdf

    -Silfvast, W. T. Laser fundamentals. Cambridge University Press (2004).

    Unidad II

    -Sear Zemansky Física Universitaria, con física moderna YOUNG, HUGH D. y ROGER A. FREEDMAN volumen 2, Decimosegunda edición, PEARSON EDUCACIÓN, México DF, (2009).

    -Hecht, Eugene. Óptica, Adison Wesley Iberoamerica, Madrid, (2000).

    Unidad III

    -Optical Properties of Solids, Anthony Mark Fox, Department of Physics and Astronomy Mark Fox Oxford University Press (2001) .

    Unidad IV

    -Fundamentals of Photonics SPIE, Chandrasekhar Roychoudhuri (2008), https://spie.org/publications/fundamentals-of-photonics-modules

    Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging,Douglas B. Murphy          Michael W. DavidsonSecond Edition Wiley-Blackwell, (2012).

    Unidad V

    -Hecht, Eugene. Óptica, Adison Wesley Iberoamerica, Madrid, (2000).

    Unidad VI

    Lifante, Gines, Integrated Photonics Fundamentals, España, Wiley (2003).

    Unidad VII

    -A. Yariv and P. Yeh – Photonics: Optical Electronics in modern communications, Oxford University Press (2007).

    Bibliografía Optativa:

    -B. Saleh Fundamentals of Photonics, John Wiley & Sons, Inc. (2007)

    Optical Spectroscopy of Inorganic Solids, B. Henderson and G. Imbusch, OUP Oxford (2006).

    -Kingston, R. H. Detection of optical and infrared radiation (Vol. 10). Springer. (2013)

    -José García Solé , Luisa Bausa, Daniel JaqueAn Introduction to the Optical Spectroscopy of Inorganic Solids, Wiley; 1st Edición (2005).

    -Roca, J. A., & Corominas, N. T. Óptica instrumental. Edicions UPC(1996).

    -Santos, J. L., & Farahi, F. (Eds.). Handbook of optical sensors. Crc Press(2014).

    -Handbook of Interferometers: Research, Technology and Applications UK ed. Edition by David Halsey (Editor), William Raynor (Editor) (2009).

    -Handbook of Optical Systems: Volume 5: Metrology of Optical Components and Systems Editor(s): Herbert Gross, Bernd Dörband, Henriette Müller First published:3 April 2012

    Print ISBN:9783527403813 |Online ISBN:9783527699230 |DOI:10.1002/9783527699230 Copyright ©

    2012 WILEY-VCH Verlag GmbH

    -Integrated Photonics 2004th Edition, Kindle Edition by Clifford Pollock (Author), Michal Lipson (Author)